推薦產(chǎn)品
聯(lián)系我們
- 上海力晶科學(xué)儀器有限公司
- 公司地址：上海市羅錦路55號錦宏產(chǎn)業(yè)園B座405室（200237）(上?？偛浚?/li>
- 公司電話：021-54287767
你的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 其它物性分析儀器 > 激光粒度儀 > 激光粒度分析儀（LT2200E）
產(chǎn)品詳細(xì)頁
型號：LT2200E
產(chǎn)品時間：2020/5/18 15:54:14
簡要描述：
LT2200E激光粒度儀加持了偏振濾波技術(shù)，摒棄傳統(tǒng)的針孔和機械調(diào)整，實現(xiàn)高穩(wěn)定激光偏振設(shè)置和空間濾波；真理光學(xué)首創(chuàng)的衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術(shù)的使用，使用戶無需選擇分析模式，即可在全粒徑范圍獲得準(zhǔn)確可靠的粒度結(jié)果。 LT2200E粒度儀的粒徑范圍為0.1um-1200um, 適用于制藥，電池材料，地質(zhì)，水文，化工和磨料等諸多行業(yè)的顆粒粒度分析。
真理光學(xué)技術(shù)團隊具有超過二十年的粒度表征及應(yīng)用開發(fā)的經(jīng)驗，在全球享有很高的聲譽。LT2200E是真理光學(xué)基于多年的科研成果開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)，其多項技術(shù)性能和指標(biāo)均十分優(yōu)異，成為當(dāng)今粒度儀市場極具性價比的產(chǎn)品。。
LT2200E加持了以下多項創(chuàng)新和優(yōu)勢技術(shù)：
◆ 偏振濾波技術(shù)
◆ 衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術(shù)
◆ 斜入射反傅里葉光路配置
◆ 格柵式大角度檢測陣列技術(shù)
◆ 粒度分析模式優(yōu)化及自適應(yīng)技術(shù)
◆ 連續(xù)液位感知及控制技術(shù)
◆ 高靈敏度光能跟蹤及穩(wěn)定技術(shù)
LT2200E光學(xué)測量系統(tǒng)的卓越性能還包括：
◆ 完全符合ISO13320衍射法測量技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
◆ 獨特的光路配置，超大連續(xù)的物理測量角度
◆ 改進型反演算法，用戶無需選擇“分析模式”，兼顧極高的分辨率和穩(wěn)定性
◆ 無需更換透鏡，無需使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn)，量程范圍達(dá)到0.1微米至1200微米
◆ 采用全息信號同步處理技術(shù)，實時測量速度高達(dá)每秒20000次，不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術(shù)的超高穩(wěn)定固體激光光源系統(tǒng)，徹底克服了氦氖氣體激光器預(yù)熱時間長，使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾波技術(shù)，徹底摒棄導(dǎo)致機械和熱穩(wěn)定性差的針孔濾波器
| 項目 | 指標(biāo) |
| 測量原理 | 激光衍射 |
| 光學(xué)模型 | 全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選 |
| 粒徑范圍 | 0.1μm-1200μm，無需更換透鏡，不依賴標(biāo)樣校準(zhǔn) |
| 檢測系統(tǒng) | 包含格柵式超大角度，非均勻交叉面積補償檢測器陣列 |
| 測量池 | 平行斜置 |
| 光源 | 集成恒溫系統(tǒng)的638nm，最高20mW固體激光器 |
| 空間濾波方式 | 非針孔式偏振濾波技術(shù) |
| 光學(xué)對中系統(tǒng) | 智能全自動 |
| 測量時間 | 典型值小于10秒 |
| 測量速度 | 最高可達(dá)20000次/秒 |
| 準(zhǔn)確度 | Dv50優(yōu)于±0.6% （NIST可溯源乳膠標(biāo)樣） |
| 重復(fù)性 | Dv50優(yōu)于±0.5% （NIST可溯源乳膠標(biāo)樣） |
| 激光安全 | 1類激光產(chǎn)品 |
| 計算機配置 | Intel i5處理器，4GB內(nèi)存，250GB硬盤，鼠標(biāo)，鍵盤和寬屏顯示器 |
| 計算機接口 | USB2.0或以上 |
| 軟件運行平臺 | Windows7或以上專業(yè)版 |
| 操作環(huán)境溫度 | 5℃-40℃ |
| 操作環(huán)境濕度 | 10%-85%相對濕度（無結(jié)凝） |
| 電源要求 | 交流220V，50Hz-60Hz，標(biāo)準(zhǔn)接地 |
| 光學(xué)系統(tǒng)重量 | 30kg |
| 光學(xué)系統(tǒng)尺寸 | 670mm x 275mm x 320mm |
- 上一篇：激光粒度分析儀（ LT2200）
- 下一篇：電位分析儀（Zeta）